高中生jk扒开滋味高潮喷水,啦啦啦WWW在线观看免费观看,亚洲第色情一区二区,欧美性受xxxxzooz乱毛

深圳市福英達工業(yè)技術有限公司
深圳市福英達工業(yè)技術有限公司

焊錫膏金脆化問題_深圳市福英達

2023-01-03

深圳市福英達


焊錫膏金脆化問題_深圳市福英達

 

金的導電性優(yōu)秀,因此在一些錫膏中會加入金元素,也會將金鍍在PCB和元件引腳上。金能在高濕度和高溫的情況下會發(fā)揮良好的作用,并且對于高循環(huán)次數(shù)(取決于鍍層厚度)來說非常有用。當然金也存在一些問題。金通常是電鍍產品中成本最高的選擇。如果金鍍層太薄,則容易造成多孔洞問題。如果鍍金太厚,則焊點可能出現(xiàn)金脆化并導致機械強度下降。

 

當焊點中金含量達到一定比例,錫金間合金會以AuSn4和AuSn2形態(tài)存在。AuSn4和AuSn2呈現(xiàn)脆性,在大量生成后容易導致焊點失效。在經過很多實驗驗證后,業(yè)內發(fā)現(xiàn)當焊料中金含量小于3%時,焊點老化后進行剪切呈現(xiàn)韌性斷裂。而當焊料中金含量占到總質量的3%以上就會導致金脆化出現(xiàn)。因此,業(yè)界一般要求焊點中的金含量不得超過3%。一般認為PCB或元件引腳鍍金層厚度小于0.1μm時影響可以忽略。沉金,鍍金器件要求金層保護內部金屬不被氧化,如果金層厚度不足則保護力不足,但金層過厚又會導致金脆。

 

案例歷史

案例一:SMT組件從PCBA上脫落。檢查SEM中的斷裂表面后發(fā)現(xiàn)焊點有著大量空洞,且空洞中含有一些殘留的助焊劑(圖1)。仔細檢查發(fā)現(xiàn)薄的Au-Sn金屬間片狀物(約0.1-0.2微米)廣泛分布在斷裂表面和空洞的表面。

image.png 

1. 失效連接器焊點的SEM圖 (嚴重空洞)。

 

案例二:使用EDS測量了一個錫鉛中溫錫膏焊點中的金含量,發(fā)現(xiàn)存在10wt%的金。Au-Sn金屬間化合物的面積分數(shù)占據了整個測量面積的28%(圖2)。受試焊點中的金含量約為金脆化可接受極限的3倍。

 

image.png 

2. 焊點微觀結構,深灰區(qū)域: Sn; 淺灰區(qū)域: Pb; 中等灰區(qū)域: Au-Sn。

 

金脆化解決方法

解決金脆化的方法之一是搪錫。搪錫能夠將元件引腳進行提前潤濕。搪錫的目的是將元件引腳表面氧化物和異物沖洗干凈,確保引腳焊錫性。防止金脆化的最簡單方法是避免在元件引腳留下金成分。搪錫能起到除去金的目的。除金搪錫需要用到一個小錫爐將元件引腳金層沖洗掉,然后再在一個錫槽內完成搪錫過程。搪錫時需要引腳在錫槽內存在相對熔融焊錫的運動。

 

深圳市福英達的無鉛中溫錫膏不含金元素,能夠很好的避免焊點發(fā)生金脆化。中溫錫膏如SAC305熔點217℃,能夠用于多次回流的首次回流,且焊點強度優(yōu)秀。


返回列表

熱門文章:

印刷錫膏_PCBA化學腐蝕引起的失效_深圳福英達

電化學腐蝕是在一定環(huán)境下出現(xiàn)的導電粒子遷移,最終導致導體間短路或漏電。印刷錫膏的助焊劑成分中的無機酸,有機酸和有機鹽等會在潮濕等條件下與PCB焊盤形成反應。此外導電陽極絲的生長會導致導體間出現(xiàn)短路和漏電現(xiàn)象。

2023-01-03

BGA錫膏焊點高度對固液擴散的影響-深圳福英達

固液界面擴散是在回流時發(fā)生的一種機制。銅焊盤原子會溶解進入焊料中并形成特定金屬間化合物(IMC)。焊點界面IMC的演變在老化過程中具有幾何尺寸效應。界面擴散的尺寸效應主要集中在焊點體積和焊盤金屬化層厚度對界面擴散的影響。

2022-12-29

銅柱凸點錫膏_銅柱凸點可靠性-深圳福英達

倒裝芯片中的銅柱凸點能夠實現(xiàn)更小的間距和更大的抗電遷移性,但也帶來更高的應力。電鍍焊料凸點(區(qū)域陣列)器件的最小間距限制為140μm–180μm。因此,當焊點間距小于140μm時,通常使用銅柱凸點。

2022-12-28

沉金板錫膏_沉金板制備和常見問題-深圳福英達

有一種廣泛應用的PCB表面處理技術叫化鎳浸金,利用該表面處理技術所制成的就是沉金板。相比于鍍金板,沉金板的金層更薄,但致密性稍差。沉金板的金層厚度一般控制在0.05-0.1μm,鎳層則是3-5μm。

2022-12-26

BGA錫膏和BGA植球工藝類型-深圳市福英達

球柵陣列(BGA)封裝突破了傳統(tǒng)封裝的限制,目前是應用領域廣泛的一種新封裝技術。BGA植球常見的類型有激光植球,印刷植球,手工植球和移印植球。

2022-12-26