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析盤中孔以及POFV孔的影響-深圳福英達(dá)

2025-03-11

ENIG Ni(P)鍍層焊接界面P偏析產(chǎn)生機(jī)理-深圳福英達(dá)

析盤中孔以及POFV孔的影響



一、盤中孔的影響

盤中孔設(shè)計(jì)在現(xiàn)代印制板(PCB)制造中越來越常見,特別是在追求高組裝密度的模塊類單板中。這種設(shè)計(jì)有助于節(jié)省空間并提高元件的集成度。然而,盤中孔的設(shè)計(jì)也帶來了一些潛在的問題,如圖1-1(a)所示為早期常見的綠油單面塞孔形式。


圖片1.jpg

1-1 盤中孔


冷撕裂(縮錫開裂)風(fēng)險(xiǎn):

當(dāng)BGA角部的焊點(diǎn)焊盤設(shè)計(jì)有盤中孔(POFV孔),如果這些孔沒有連接內(nèi)層的大銅皮(如地、電層),在再流焊接快速冷卻過程中,可能會(huì)因焊點(diǎn)的單向凝固及BGA角部的翹起而出現(xiàn)熔斷現(xiàn)象。這種熔斷現(xiàn)象發(fā)生在焊點(diǎn)凝固時(shí),因此被稱為冷撕裂或縮錫開裂,如圖1-2所示。


圖片2.jpg

1-2 POFV 孔冷撕裂(縮錫開裂)形成機(jī)理

冷撕裂會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)連接不可靠,從而影響整個(gè)電路板的性能和可靠性。


熱性能影響:

如果盤中孔連接有內(nèi)層的大銅皮,由于大銅皮具有良好的熱導(dǎo)性,可以更有效地分散焊接過程中的熱量,從而避免單向凝固引起的熔斷問題。然而,大銅皮的存在也可能導(dǎo)致焊接過程中的熱應(yīng)力增加,對(duì)焊接接頭的可靠性產(chǎn)生一定影響。


二、POFV孔的影響

POFV(Plate Over Filled Via)孔,即樹脂塞孔電鍍填平工藝的孔,也被稱為VIPPO孔或盤中孔。這種工藝的主要優(yōu)點(diǎn)包括有利于設(shè)計(jì)疊孔和焊盤上加孔、改善電氣性能、有助于散熱以及可有效節(jié)約空間。然而,POFV孔的設(shè)計(jì)也需要注意以下幾個(gè)方面的影響,如圖1-3所示為POFV孔可能引發(fā)的焊接問題示意圖。

1741677469437123.jpg

1-3 POFV 孔冷撕裂(縮錫斷裂)現(xiàn)象


焊接可靠性:

POFV孔的設(shè)計(jì)不當(dāng)可能導(dǎo)致冷撕裂問題,從而影響焊接接頭的可靠性。此外,如果POFV孔的填充不平整或存在缺陷,也可能導(dǎo)致焊接過程中的問題,如虛焊、假焊等。

電氣性能:

POFV孔的填充和電鍍質(zhì)量對(duì)電氣性能有重要影響。填充不平整或電鍍層不完整可能導(dǎo)致電氣連接不良或信號(hào)傳輸問題。因此,在制造過程中需要嚴(yán)格控制POFV孔的填充和電鍍質(zhì)量。


散熱性能:

雖然POFV孔有助于散熱,但如果設(shè)計(jì)不當(dāng)或填充材料導(dǎo)熱性能不佳,也可能影響散熱效果。在選擇填充材料和設(shè)計(jì)POFV孔時(shí),需要考慮其散熱性能。

總結(jié),盤中孔和POFV孔的設(shè)計(jì)對(duì)印制板的性能和可靠性有重要影響。在制造過程中需要嚴(yán)格控制工藝流程和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),以確保這些孔的設(shè)計(jì)能夠滿足實(shí)際應(yīng)用需求并具有良好的可靠性和性能表現(xiàn)。同時(shí),設(shè)計(jì)師和制造工程師應(yīng)密切關(guān)注這些孔可能帶來的潛在問題,并采取相應(yīng)的預(yù)防措施來降低風(fēng)險(xiǎn)。


-未完待續(xù)-

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